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Equipments
Id:3

走査型電子顕微鏡(SEM-EBSD)

JSM-6390LV
走査型電子顕微鏡(SEM-EBSD)

装置概要

装置ID
3
メーカー
日本電子株式会社
形式
JSM-6390LV
設置場所
黒髪南キャンパス 工学部附属工学研究機器センター・4階・408室
概要
倍率:×5~300,000
試料寸法:最大5インチ径
特徴:高真空・低真空両モード測定が可能、反射電子検出器搭載
   低真空モードでは非伝導性試料でも無蒸着で観察可能
   ※同室内に蒸着装置、凍結乾燥装置が付属
管理者
庄﨑 雅裕
TEL
096-342-3518
メール
shozaki@tech.kumamoto-u.ac.jp

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走査型電子顕微鏡(SEM-EBSD) 走査型電子顕微鏡(SEM-EBSD)

〒860-8555 熊本市中央区黒髪2丁目39番1号

Tel. 096-342-3406

(受付時間 9:00-17:00 土日祝除く)

E-Mail. oic@kumamoto-u.ac.jp

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