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Equipments
Id:45

集束イオンビーム (FIB-SEM)

NB5000
集束イオンビーム (FIB-SEM)

装置概要

装置ID
45
メーカー
株式会社日立ハイテク
形式
NB5000
設置場所
黒髪南キャンパス 工学部附属工学研究機器センター・3階・306室
概要
試料表面の特定領域を研削加工
特定領域へのC, Wの成膜やプローブによる試料の採取
FIB加工中および加工後の試料の高分解能SEM観察が可能
反射電子検出器およびEBSD検出器も備え持つ
管理者
山室 賢輝
TEL
096-342-3823
メール
yamamuro@tech.kumamoto-u.ac.jp

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集束イオンビーム (FIB-SEM) 集束イオンビーム (FIB-SEM)

〒860-8555 熊本市中央区黒髪2丁目39番1号

Tel. 096-342-3406

(受付時間 9:00-17:00 土日祝除く)

E-Mail. oic@kumamoto-u.ac.jp

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