装置一覧
Equipments
Id:360
FIB-SEM(Carl Zeiss)
Cross Beam 550
装置概要
- 装置ID
- 360
- メーカー
- Carl Zeiss
- 形式
- Cross Beam 550
- 設置場所
- 黒髪南キャンパスキャンパス SOIL棟1階S107分析機器室③
- 概要
-
最高30kVのGaイオンビームにて加工。
デポジションガスはC、Pt、W、インシュレータ、XeF2ガスを搭載。
SEMでは二次電子、反射電子による観察が可能。
STEM用ホルダー、検出器を搭載。
EDSによる元素分析およびEBSDによる結晶方位解析が可能。
専用ホルダーによりTKD(透過EBSD)取得可能。
フェムト秒レーザーによるミリメートルスケールの加工。
ペルチェステージにより最低-85℃にて加工、観察が可能。 - 管理者
- 庄﨑 雅裕
- TEL
- 096-342-3518
- メール
- shozaki@tech.kumamoto-u.ac.jp