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Equipments
Id:360

FIB-SEM(Carl Zeiss)

Cross Beam 550
FIB-SEM(Carl Zeiss)

装置概要

装置ID
360
メーカー
Carl Zeiss
形式
Cross Beam 550
設置場所
黒髪南キャンパスキャンパス SOIL棟1階S107分析機器室③
概要
最高30kVのGaイオンビームにて加工。
デポジションガスはC、Pt、W、インシュレータ、XeF2ガスを搭載。
SEMでは二次電子、反射電子による観察が可能。
STEM用ホルダー、検出器を搭載。
EDSによる元素分析およびEBSDによる結晶方位解析が可能。
専用ホルダーによりTKD(透過EBSD)取得可能。
フェムト秒レーザーによるミリメートルスケールの加工。
ペルチェステージにより最低-85℃にて加工、観察が可能。
管理者
庄﨑 雅裕
TEL
096-342-3518
メール
shozaki@tech.kumamoto-u.ac.jp

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FIB-SEM(Carl Zeiss) FIB-SEM(Carl Zeiss)

〒860-8555 熊本市中央区黒髪2丁目39番1号

Tel. 096-342-3406

(受付時間 9:00-17:00 土日祝除く)

E-Mail. oic@kumamoto-u.ac.jp

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