装置一覧
Equipments
Id:45
集束イオンビーム (FIB-SEM)
NB5000
装置概要
- 装置ID
- 45
- メーカー
- 株式会社日立ハイテク
- 形式
- NB5000
- 設置場所
- 黒髪南キャンパス 工学部附属工学研究機器センター・3階・306室
- 概要
-
試料表面の特定領域を研削加工
特定領域へのC, Wの成膜やプローブによる試料の採取
FIB加工中および加工後の試料の高分解能SEM観察が可能
反射電子検出器およびEBSD検出器も備え持つ - 管理者
- 山室 賢輝
- TEL
- 096-342-3823
- メール
- yamamuro@tech.kumamoto-u.ac.jp