装置一覧
Equipments
            Id:45
                                    
        集束イオンビーム (FIB-SEM)
NB5000
        装置概要
- 装置ID
 - 45
 - メーカー
 - 株式会社日立ハイテク
 - 形式
 - NB5000
 - 設置場所
 - 黒髪南キャンパス 工学部附属工学研究機器センター・3階・306室
 - 概要
 - 
                試料表面の特定領域を研削加工
特定領域へのC, Wの成膜やプローブによる試料の採取
FIB加工中および加工後の試料の高分解能SEM観察が可能
反射電子検出器およびEBSD検出器も備え持つ - 管理者
 - 山室 賢輝
 - TEL
 - 096-342-3823
 - メール
 - yamamuro@tech.kumamoto-u.ac.jp